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内型面测量仪 参考价：面议
对于精密孔加工零件，例如航空航天仪器中的燃料喷嘴、医疗器械中的中空零件、分析仪中的精密喷嘴和流体动力轴承，内周表面评估的重要性日益增加。现有的测量仪器可以评估内...
晶圆缺陷检测系统 参考价：面议
可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为100 纳米，主要用于半导体光罩、 LCD 大型光罩的石英玻璃表面、内部、背面的...
白光共聚焦显微镜 参考价：面议
日本Lasertec公司推出了Optelics混合共焦显微镜,将激光和白光源组合在一体,用于多功能高性能共聚显微镜.两组共焦光学器件与附加器件相结合,包括干涉仪...
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